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GP200探針臺(tái)

簡(jiǎn)要描述:進(jìn)口探針臺(tái),GP200探針臺(tái)包含DC~THZ測(cè)試所需的完整配置,能夠在短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確地完成測(cè)試要求。 提供專業(yè)的測(cè)試方案,能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測(cè)試。

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-11-07
  • 訪  問  量:6741

詳細(xì)介紹

GP200探針臺(tái)讓您的芯片測(cè)試更加簡(jiǎn)單

GP200包含DC~THZ測(cè)試所需的完整配置, 能夠在短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確地完成測(cè)試要求。 提供專業(yè)的測(cè)試方案,能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測(cè)試。

l 機(jī)臺(tái)可輕松實(shí)現(xiàn)DC ~ THZ測(cè)量。

l 提供芯片級(jí)I-V / C-V低噪聲測(cè)試系統(tǒng)方案。

l 優(yōu)異的三軸設(shè)計(jì),保證I-V測(cè)試漏電精度達(dá)到f ji級(jí)。

l 多孔吸附式載物臺(tái)設(shè)計(jì),更好地兼容薄晶圓固定。

l 高品質(zhì)顯微鏡搭配高分辨率CCD系統(tǒng),可直觀了解扎針情況,提高扎針的準(zhǔn)確性和效率。

l 可升級(jí)的高低溫系統(tǒng),為芯片提供更加成熟穩(wěn)定的老化測(cè)試環(huán)境。

l 緊湊且可靠的機(jī)械設(shè)計(jì),更適用于芯片的測(cè)試及建模系統(tǒng)升級(jí)。

l 能夠根據(jù)未來需求,可提供多種升級(jí)模塊,輕松實(shí)現(xiàn)探針臺(tái)功能升級(jí)。

l 短軸式拉桿設(shè)計(jì),將更加符合新一代芯片系統(tǒng)測(cè)試的需求。拉桿在任意位置可停留、極限位置能快速鎖定、分離位可固定,將進(jìn)一步防止誤操作,提高測(cè)試效率,節(jié)省成本。

 

GP200探針臺(tái)

 

 

 

 

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