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  • 2022

    9-1

    溫控探針臺(tái)是一款使用溫度范圍在-190℃-600℃的儀器,在我們使用時(shí)還可對(duì)樣品氣氛進(jìn)行控制,同時(shí)允許探針電測(cè)試、光學(xué)觀察和樣品氣體環(huán)境控制。這樣既可以保證,即使在極低溫度下,腔體也不產(chǎn)生結(jié)霜影響實(shí)驗(yàn),又可以防止樣品發(fā)生氧化。探針臺(tái)上蓋與底殼構(gòu)成一個(gè)氣密腔,可往內(nèi)充入氮?dú)獾缺Wo(hù)氣體,來(lái)防止樣品在負(fù)溫下結(jié)霜,或高溫下氧化。此款通過(guò)杠桿式支架,使用的是彎針探針。相比傳統(tǒng)的直針探針,這種設(shè)計(jì)不僅點(diǎn)針更準(zhǔn)確,而且點(diǎn)針力度更大,和樣品的電接觸性更好。作為半導(dǎo)體封測(cè)行業(yè)三大設(shè)備之一,探針...

  • 2022

    8-26

    芯片分選機(jī)是用來(lái)干什么的呢?我們知道LED芯片是LED器件的核心,其可靠性決定了下游產(chǎn)品的壽命、發(fā)光性能等。LED封裝廠必須在采購(gòu)階段明確芯片需求、嚴(yán)格把控質(zhì)量,特別是波長(zhǎng)、亮度等指標(biāo)。如果在大量封裝結(jié)束后才發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品性能只能滿足少數(shù)客戶需求,將給企業(yè)造成直接損失。為了在封裝前保證芯片的可靠性,可以通過(guò)分選工序幫助把控芯片質(zhì)量。集成電路分選設(shè)備應(yīng)用于芯片封裝之后的FT測(cè)試環(huán)節(jié),它是提供芯片篩選、分類功能的后道測(cè)試設(shè)備。分選機(jī)負(fù)責(zé)將輸入的芯片按照系統(tǒng)設(shè)計(jì)的取放方式運(yùn)輸?shù)綔y(cè)試模塊完...

  • 2022

    8-24

    高壓探針臺(tái)是一種用于信息科學(xué)與系統(tǒng)科學(xué)領(lǐng)域的工藝試驗(yàn)儀器,探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片,并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座,配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。今天我們主要來(lái)看看高壓探針臺(tái)的維護(hù)和保養(yǎng):1、避免碰撞:在安裝,操作CS探針臺(tái)時(shí)應(yīng)避免碰撞,機(jī)體放置需平坦,不可傾斜或橫倒,避免機(jī)器發(fā)生故障或異常異音。2、儀器的運(yùn)輸:儀器運(yùn)輸時(shí),請(qǐng)先拔掉電源線插頭。儀器運(yùn)輸應(yīng)使用專門的包裝箱,避免碰到探針臺(tái)的任何運(yùn)動(dòng)部件。3、儀器的存放①使用完后需要注...

  • 2022

    8-18

    下面小編帶著大家去了解什么是ESD測(cè)試設(shè)備,它是在干燥環(huán)境下(濕度較低的環(huán)境),人體通過(guò)與一些物體摩擦,使人體帶電,那么帶電的人體與設(shè)備接觸過(guò)程中就容易對(duì)設(shè)備放電,靜電放電抗擾度試驗(yàn)?zāi)M了兩種情況:1、設(shè)備操作人員直接接觸設(shè)備時(shí)對(duì)設(shè)備的放電,和放電對(duì)設(shè)備工作性能的影響;2、設(shè)備操作人員在觸摸臨近設(shè)備時(shí),對(duì)所關(guān)心這臺(tái)設(shè)備的影響。那么ESD是如何產(chǎn)生的呢?簡(jiǎn)單的說(shuō)就是正負(fù)電荷失衡時(shí)產(chǎn)生的一種現(xiàn)象。它的特點(diǎn)就是長(zhǎng)時(shí)間積聚、高電壓、低電量、大電流和作用時(shí)間短。靜電,通常都是人為產(chǎn)生的...

  • 2022

    8-10

    隨著半導(dǎo)體市場(chǎng)的逐步開(kāi)放和增長(zhǎng),射頻探針臺(tái)作為半導(dǎo)體檢測(cè)儀器,其市場(chǎng)也在逐年增長(zhǎng)和擴(kuò)大中,不論是海外品牌還是國(guó)產(chǎn)品牌,近幾年在半導(dǎo)體檢測(cè)儀器市場(chǎng)中的規(guī)模都在逐年擴(kuò)大。這里面說(shuō)的半導(dǎo)體元件指的是集成電路,分立器件,光電器件,傳感器等元件以及封裝的測(cè)試。本設(shè)備主要的功能就是針對(duì)半導(dǎo)體元件進(jìn)行檢測(cè),通過(guò)配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓,電流,電阻和電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)??梢赃m用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析,抽查檢測(cè)等;可以保證這些半導(dǎo)體元件的質(zhì)量,縮短研發(fā)時(shí)間和器件制作工藝的成本,所...

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